| Laboratuvar Bilgileri: |
Ondokuz Mayıs Üniversitesi Fen Fakültesi'nde bulunan STOE IPDS-II (Stoe Imaging Plate Difffraction System-II) difraktometresi, tek kristal X-ışını kırınım çalışmalarında kullanılmaktadır. Difraktometre 34 cm çapında görüntü plakası ve iki eksenli gonyometreye sahiptir. Bu cihazın X-ışını kaynağından çıkan ışınlar, monokramotor ve kollektörden geçerek kristale ulaşır. Kristalde Bragg saçılmasına uğrayan yansımalar görüntü plakası üzerine düşer. Görüntü tabakasında oluşan kırınım deseni bilgisayarlı donanım tarafından optik yöntemlerle okunarak sayısal verilere dönüştürülür. Elde edilen bu verilerden X-AREA programı yardımı ile kristale ait “hkl” miller indisleri dosyası, ayrıca cihaz, kristale ait bilgiler ve çalışma ortamı gibi bilgileri içeren “crs” uzantılı dosya oluşturulur. Elde edilen bu dosyalar kullanılarak, X-RED isimli bilgisayar programı yardımı ile yapı çözümü için gerekli olan “ins” uzantılı dosya oluşturulur. Paket programlarda bu dosyalar kullanılarak kristalin yapı analizi yapılır. |
